![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/08-1.jpg)
模組編號 08-1
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/08-2.jpg)
模組編號 08-2
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/KB-1.jpg)
模組編號 KB-1
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/KB-2.jpg)
模組編號 KB-2
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/RE-1.jpg)
模組編號 RE-1
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/RE-2.jpg)
模組編號 RE-2
光學模表面瑕疵檢驗(刮傷)
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/1-mode-scratch.jpg)
光學模表面瑕疵檢驗(附加物)
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/2-mode-add.jpg)
光學模表面瑕疵檢驗(夾層黑點)
![光學模入料檢驗模組 光學模入料檢驗模組](/storage/system/Index/mode/3-mode-black.jpg)
模組編號大數據紀錄檢驗,避免度數混料,可提供生管、研發、工程、品保…等製程相關單位,作為品質異常分析改進。
高精度切圓(真圓)及刮傷檢驗,提前發現不良品,有效降低製程中原物料浪費,提升產品良率。
光學模表面瑕疵除標註異常位置外,檢驗程式亦可依瑕疵特徵定義名稱,便於廠內分析識別。
檢驗項目:模組編號、切圓不良、切圓變形、附加物(毛屑) 、刮傷、黑點。