模組編號大數據紀錄檢驗，避免度數混料，可提供生管、研發、工程、品保…等製程相關單位，作為品質異常分析改進。

高精度切圓(真圓)及刮傷檢驗，提前發現不良品，有效降低製程中原物料浪費，提升產品良率。

光學模表面瑕疵除標註異常位置外，檢驗程式亦可依瑕疵特徵定義名稱，便於廠內分析識別。

檢驗項目：模組編號、切圓不良、切圓變形、附加物(毛屑) 、刮傷、黑點。